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瑞博檢測的驕傲!我公司獲得“一種用于薄膜材料及微納結構的電學參數檢測平臺”發明專利證書
 

     2019年2月,公司發明專利——“一種用于薄膜材料及微納結構的電學參數檢測平臺”順利通過中華人民共和國專利法審查,獲得了專利權。具體情況如下:

發明名稱:一種用于薄膜材料及微納結構的電學參數檢測平臺

專利號:ZL 2016 1 0321924.0

專利權人:云南瑞博檢測技術股份有限公司

專利申請日:2016 05 16

授權公告日:2019 2  12

授權公告號:CN 106018964 B

專利權期限:二十年

 該項發明專利的取得體現了公司持續自主的研發能力及創新性,有利于增強公司自有知識產權的保護力度,提升公司的核心競爭力和品牌知名度,保持公司產品在同行業中的技術領先優勢。

 

 
 
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